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pcba加工可靠性的历史发展解析

来源:深圳市海达鑫电路有限公司  发布时间:2018-09-20   点击量:207

pcba加工可靠性的历史发展解析

可靠性试验作为可靠性工程中的关键内容之一,其作用和地位是非常重要的。然而这块内容由于各类试验繁多,其试验目的和作用又各有千秋,经常会使我们眼花凌乱,傻傻分不清楚。

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小编将就可靠性试验的概念进行一下梳理,以便我们对可靠性试验的整体有一个全面的把控。

一、可靠性试验的发展

产品可靠性试验由1952年AGREE提出,1963年美军发布MIL-STD-781《可靠性试验》,中间虽历经数多版本,但所采用的方法都是假设产品寿命分布为指数分布,其试验目的都是以一定置信水平评价产品可靠性指标是否满足合同要求,因此也称为寿命评估试验。

随着产品可靠性的不断提高,美国于1994年成立了国防试验与评价统计方法研究小组,经过四年的努力,于1998年发表了研究报告《统计、试验与采办-新的途径与方法改进》,报告重点探讨了四个领域的统计方法:

1、可靠性、可用性维修性(RAM)评估;

2、建模与仿真的应用;

3、软件测试方法;

4、试验设计技术与应用。

提出了RAM是统计密集程度最高的观点,并建议威布尔分析等方法替代相比比较保守的指数分布假设方法。在统计方法上另一个进展就是加快贝叶斯方法的应用步伐。

1988年Hobbs博士提出了高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)。前者用于产品的设计阶段,目的是快速暴露产品的设计缺陷,以便及时改进设计,提高产品固有可靠性;后者用于产品的生产阶段,目的是快速暴露产品在生产过程中的各种制造缺陷,为用户提供高可靠性的产品。

可靠性强化试验的理论依据是故障物理学,把故障或失效当作研究的主要对象,通过发现、研究和根治故障达到提高可靠性的目的。作为可靠性试验领域的两个主要发展方向,可靠性强化试验和高加速寿命试验越来越受到国内外研究者的普遍重视,并在实际工程应用中取得了明显的成效。

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